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摘要:
欠采样噪声产生分布于整个画面的附加像,给目标识别等应用带来困难.基于信息理论,建立了欠采样噪声的应用分析模型,提出了采样成像系统光电一体化设计方法.通过仿真试验,得出欠采样噪声与光学成像系统参数的关系.理论分析和仿真证明,根据系统互信息量选择光、电系统参数,可以减小欠采样噪声,提高图像质量.
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文献信息
篇名 欠采样噪声分析与光电一体化设计
来源期刊 光电工程 学科 工学
关键词 欠采样噪声 阵列探测器 空间频率响应
年,卷(期) 2003,(2) 所属期刊栏目 图像和信号处理
研究方向 页码范围 56-59
页数 4页 分类号 TP391.41
字数 2469字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-501X.2003.02.017
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 迟学芬 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 58 291 9.0 14.0
3 韩昌元 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 36 791 17.0 27.0
4 易志栋 吉林大学通信工程学院 6 62 4.0 6.0
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研究主题发展历程
节点文献
欠采样噪声
阵列探测器
空间频率响应
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光电工程
月刊
1003-501X
51-1346/O4
大16开
四川省成都市双流350信箱
1974
chi
出版文献量(篇)
4776
总下载数(次)
5
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