成像标定法测量半导体激光器慢轴远场分布

• 作者: 任杰 洪治
• 来源期刊: 光学仪器
• 学科: 物理学
• 关键词: 半导体激光器 远场分布 CCD测量 成像 标定
• 年，卷（期）: 2003,（6）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 8-11
• 页数: 4页
• 分类号: O431
• 字数: 1663字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-5630.2003.06.002

摘要

利用远场成像及标定对比方法,建立了半导体激光器慢轴远场分布的CCD测量系统.介绍了测量的原理和测量系统的组成,并给出了半导体激光器慢轴远场分布的测量结果.实验结果表明,该方法实时性好,测量快速、准确,人为误差因素少,适合仪器化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	洪治	浙江大学现代光学仪器国家重点实验室	14	80	6.0	8.0
2	任杰	浙江大学现代光学仪器国家重点实验室	6	10	2.0	2.0