CD-R光盘常规检测参数和质量控制

• 作者: 陈垦
• 来源期刊: 记录媒体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 光斑直径 高斯分布 CD-R 数据块 光强分布 刻槽 检测参数 盘片 质量控制 频率范围
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 页码范围: 35-39
• 页数: 5页
• 分类号: TQ596

摘要

【正】 10.串扰XT(Cross Talk):读出光斑直径总是大于CD-R盘片上预刻槽的宽度,而且光斑也不是强度均匀分布的几何圆,光斑的强度分布是高斯分布,通常所说的光斑直径是指高斯分布曲线的半高度的全宽度。事实上在光斑直径边缘甚至以外还是有光强分布的,只不过强度很弱而己。另外在预刻槽内刻录的信息凹坑往往也不只局限在槽宽范围内,凹坑可能扩大到槽边的岸区。这样读出光斑的边缘会覆盖相邻槽内的部分信息凹坑。这些相同频率范围的相邻槽内

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈垦	清华大学光盘国家工程研究中心	9	6	2.0	2.0