高密度电阻率法二维成像技术及其在工程勘查中的应用

• 作者: 刘庆成 汤洪志 龚育龄
• 来源期刊: 工程勘察
• 学科: 地球科学
• 关键词: 高密度电阻率法 电阻率成像 阵列电探系统
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 所属期刊栏目: 工程技术
• 页码范围: 62-64
• 页数: 3页
• 分类号: P319.1+2|P319.3+2
• 语种: 中文

摘要

利用二维电阻率成像测量技术可以重构地下介质的精确结构.高密度电阻率法可以看作是一种特殊、方便、实用的层析成像测量方法,由此获得的分辨率比常规电阻率法所进行的各种解释都高得多.本文就高密度电率法成像技术的理论与方法进行了粗浅探讨,并以几个应用实例说明了该技术的有效性和实用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘庆成	东华理工学院探测与信息技术系	100	937	14.0	26.0
2	龚育龄	东华理工学院探测与信息技术系	63	522	13.0	20.0
3	汤洪志	东华理工学院探测与信息技术系	54	220	9.0	11.0