高纯锗探测器探测效率修正法的研究

• 作者: 刘晓亚 胡广春 龚建
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 工学
• 关键词: 高纯锗探测器 探测效率 修正方法 Γ谱仪
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 页码范围: 72-73
• 页数: 2页
• 分类号: TL814

摘要

探测效率是高纯锗探测器的一个重要指标，实际工作中面对的测试对象经常是一些不规则的辐射体，使得用标准源刻度探测效率难以实现，为此通过理论方法研究刻度体源探测效率有着重要意义。但是理论模拟面对着模型刻画准确性的问题，为此，该项研究针对实验室的两台便携式高纯锗γ谱仪开展了理论计算的验证工作，通过两种方法作为验证基准，即：实验和基准程序计算。针对计算产生的偏差，探索了影响效率差异的各种因素，推导了修正公式，并对修正公式的有效性和适应性进行验证。修正后的理论结果与基准的比较见图1和图2。