前端放大电路阵列测量系统的研制

• 作者: 刘云鹏 张田田 李元景 王汝赡 贺恋平
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 前端电放大路阵列 测试和数据采集系统 噪声
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 页码范围: 69-71,96
• 页数: 4页
• 分类号: TN722
• 字数: 3187字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2003.01.018

摘要

介绍了用于检测集装箱检查系统前端放大电路阵列性能指标的测试系统.该系统实现了对前端放大电路阵列的积分非线性、一致性和稳定性等指标的自动测试分析以及分析结果的回显和保存,达到了在应用现场及时准确测量其性能指标的目的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李元景	清华大学工程物理系	58	250	9.0	12.0
2	王汝赡	清华大学工程物理系	8	67	4.0	8.0
3	张田田	清华大学工程物理系	1	2	1.0	1.0
4	刘云鹏	清华大学工程物理系	1	2	1.0	1.0
5	贺恋平	清华大学工程物理系	1	2	1.0	1.0