MH/Ni电池失效原因分析

• 作者: 唐有根 徐国荣
• 来源期刊: 电池
• 学科: 工学
• 关键词: MH/Ni电池 失效原因 循环伏安
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 238-239
• 页数: 2页
• 分类号: TM912.2
• 字数: 2044字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1579.2003.04.015

摘要

为分析MH/Ni电池失效原因,对失效后的MH/Ni电池进行解剖.对负极进行充放电容量测定、电镜扫描、表面元素分析,对正极进行充放电容量测定、循环伏安分析.结果表明,正负极容量都降低,负极活性物质发生了粉化,元素发生了偏析;氢氧化镍的氧化电位升高,而还原电位降低,电极可逆性变差了.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐有根	中南大学化学化工学院	159	1029	16.0	22.0
2	徐国荣	湘潭工学院化工系	2	8	2.0	2.0