原子氧及紫外线对O形圈泄漏率影响的研究

• 作者: 张建斌 王广振 邵新杰
• 来源期刊: 中国空间科学技术
• 学科: 航空航天
• 关键词: 紫外线 原子氧 硅橡胶 密封试验
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 65-71
• 页数: 7页
• 分类号: V25
• 语种: 中文

摘要

运用地面模拟设备对硅橡胶材料O形圈进行了原子氧暴露、紫外线辐射实验研究;利用测压法进行了O形圈在原子氧暴露及紫外线辐射前后的泄漏率比对实验,并对实验前后O形圈进行了扫描电镜分析.实验表明:原子氧和紫外线辐射对O形圈的表面状况及泄漏率均有明显影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张建斌		28	234	8.0	15.0
2	王广振		6	66	5.0	6.0
3	邵新杰		1	0	0.0	0.0