基于非接触精密视觉测量的硬盘磁头头偏测量系统

• 作者: 周勇 焦向杰 王栋民
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 机器视觉 非接触精密测量 图形图像处理 数据库 数据采集与处理 SPC
• 年，卷（期）: 2003,（11）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 839-842
• 页数: 4页
• 分类号: TP274.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2003.11.007

摘要

应用基于机器视觉的非接触测量技术对计算机硬盘磁头的头偏测量, 不仅满足了磁头生产防污、防ESD的需要, 而且实现了精密测量的需要; 对测量数据的采集处理以及SPC实时监控, 有效地实现了生产过程的控制和预报; 与FIS系统的连接实现了生产数据的可追溯性, 为生产管理现代化提供一个强有力的工具.系统已广泛应用于硬盘磁头生产线.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王栋民	深圳开发科技股份有限公司自动化研究所	6	17	2.0	4.0
2	焦向杰	深圳开发科技股份有限公司自动化研究所	4	14	2.0	3.0
3	周勇	深圳开发科技股份有限公司自动化研究所	1	3	1.0	1.0