军用电子部件失效分析

• 作者: 何德洪 杨万均 肖敏
• 来源期刊: 表面技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电子零部件 棚下暴露 失效分析
• 年，卷（期）: 2003,（6）
• 所属期刊栏目: 腐蚀与防护
• 页码范围: 56-58,74
• 页数: 4页
• 分类号: TG172.3
• 字数: 3697字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3660.2003.06.020

摘要

文中针对某型雷达8μs方波发生器样品在热带海洋性大气环境和内陆工业大气环境下进行棚下暴露试验中的失效行为和元器件表面处理层的失效原因进行了分析,初步找出了在不同大气环境下引起样品失效的主要环境因素.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖敏	中国兵器工业第五九研究所国防科技工业自然环境试验研究中心	17	109	6.0	10.0
2	何德洪	中国兵器工业第五九研究所国防科技工业自然环境试验研究中心	5	43	4.0	5.0
3	杨万均	中国兵器工业第五九研究所国防科技工业自然环境试验研究中心	17	83	6.0	8.0