利用大容量高速开关技术消除电抗器的漏磁通影响

• 作者: 支元彦 马宏文
• 来源期刊: 电气开关
• 学科: 工学
• 关键词: 漏磁通 串联电抗器 短路电流
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 所属期刊栏目: 分析与探讨
• 页码范围: 9-10,13
• 页数: 3页
• 分类号: TM56
• 字数: 1772字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-289X.2003.05.004

摘要

利用大容量高速开关装置,在正常运行时将串联电抗器短接,消除电抗器漏磁通对其周围的金属产生的涡流发热;在发生短路情况下该装置快速断开,重新将电抗器投入,限制短路电流.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	支元彦		2	0	0.0	0.0
2	马宏文		2	0	0.0	0.0