腮腺良性肿瘤手术对面神经损伤的电生理研究

• 作者: 张军生 魏奉才
• 来源期刊: 北京口腔医学
• 学科: 医学
• 关键词: 损伤 面神经 神经电图
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 所属期刊栏目: 基础研究
• 页码范围: 205-207
• 页数: 3页
• 分类号: R739.87
• 字数: 1610字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-673X.2003.04.006

摘要

目的:通过检查腮腺术后面神经电图,研究其相关指标在评价面神经损伤中的特定意义.方法:选择50例单侧型腮腺良性肿瘤患者,术前24小时及术后3天、10天、20天、60天、80天、100天进行面神经电图检查,记录波幅值(Am)、潜伏值(LT)、动作电位持续时间DT,并计算神经变性率(DR).结果:术后3天起各指标较正常水平有显著改变,并在10天达到高峰,20天后呈现修复状态,80天后修复能力显著下降.结论:多数情况下腮腺良性肿瘤所致的面神经损伤属于可逆性的神经失用.DT、LT对神经变构较敏感,DR、Am、主要显示神经变性和由变性到修复的转变过程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏奉才	山东大学齐鲁医院口腔科	90	392	10.0	13.0
2	张军生	山东省聊城市人民医院口腔科	4	5	1.0	1.0