X7R弛豫复相铁电陶瓷的研究

• 作者: 刘会冲 杨祖培
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 弛豫铁电陶瓷 PZN-BT PMN-PT 温度稳定性
• 年，卷（期）: 2003,（9）
• 所属期刊栏目: 电子陶瓷
• 页码范围: 15-16,26
• 页数: 3页
• 分类号: TM22+.1
• 字数: 1817字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2003.09.006

摘要

以PZN-BT(低温相)、PMN-PT(高温相)为起始组元,采用混合烧结法制备了具有X7R介电特性电子瓷料,其介电温谱在-55~+125℃范围内相当平坦,室温相对介电常数高达3 877,并从离子的键型分析了影响介电温度稳定性的原因,初步探讨了提高介电温度稳定性的机制.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨祖培	广东风华高新科技集团有限公司技术中心	40	226	9.0	13.0
3	刘会冲	广东风华高新科技集团有限公司技术中心	8	40	4.0	6.0