表面钝化技术对光学灾变的影响的研究

• 作者: 刘云 王立军 程东明
• 来源期刊: 激光技术
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体 半导体激光器 光学灾变 表面钝化
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 器件与技术
• 页码范围: 14-15
• 页数: 2页
• 分类号: TN248.4
• 字数: 1589字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3806.2003.01.008

摘要

介绍了对半导体激光器的腔面进行钝化处理的方法,分别采用几种不同的试剂对腔面进行处理,得出不同的结果.实验表明,用P2S5/NH4OH和(NH4)2Sx共同处理的样品在较高功率时开始发生光学灾变.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王立军	中国科学院激发态物理开放实验室	131	1339	19.0	31.0
2	刘云	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	99	706	15.0	23.0
3	程东明	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	5	29	4.0	5.0