电感耦合等离子原子发射光谱法测定染料中的杂质元素

• 作者: 刘宏伟 谢华林
• 来源期刊: 印染助剂
• 学科: 化学
• 关键词: 微波消解 杂质元素 染料 ICP-AES
• 年，卷（期）: 2003,（6）
• 所属期刊栏目: 分析测试
• 页码范围: 45-46
• 页数: 2页
• 分类号: O657.31
• 字数: 1767字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-0439.2003.06.014

摘要

研究了微波消解样品,同时使用了电感耦合等离子原子发射光谱(ICP-AES)法测定了染料中Cu、Fe、Pb、Ni、Cr、Sb的新方法.对影响其光谱测量的各种因素进行了较为详细的研究,确定了实验的最佳测定条件.结果表明,方法的检出限为0.003～0.013μg/ml,回收率为96.60%～103.56%,RSD小于3.08%.该法准确、快速、简便,应用于染料中杂质元素的测定,结果满意.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢华林		100	980	15.0	28.0
2	刘宏伟		16	113	5.0	10.0