退火对CdS/SiO2介孔组装体系吸收边的影响

• 作者: 张立德 杨一军 毕会娟 阚彩侠
• 来源期刊: 复合材料学报
• 学科: 工学
• 关键词: CdS纳米颗粒 介孔组装体系 吸收边
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 页码范围: 47-52
• 页数: 6页
• 分类号: TB383
• 字数: 3210字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3851.2003.02.009

摘要

本文作者通过溶胶-凝胶法获得块材CdS纳米颗粒/介孔SiO2组装体系(CdS/SiO2)块体样品,室温下的拉曼谱中观察到CdS的两个特征峰;在氮气和空气气氛中退火处理后,发现吸收边位置随复合量和退火温度不同而移动.经计算,CdS颗粒粒径的理论值与其自由激子半径相当,说明吸收边的移动起因于量子限域效应.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨一军	安徽淮北煤炭师范学院物理系	4	26	3.0	4.0
5	阚彩侠	中科院固体物理研究所	4	17	2.0	4.0
6	毕会娟	中科院固体物理研究所	1	7	1.0	1.0
7	张立德	中科院固体物理研究所	5	23	3.0	4.0