硅钼蓝分光光度法测定氧化铝中二氧化硅的改进

• 作者: 张颖 王毓鑫 贺晓东
• 来源期刊: 有色金属
• 学科: 化学
• 关键词: 分析化学 二氧化硅 分光光度法 氧化铝
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 分析与检测
• 页码范围: 147-148
• 页数: 2页
• 分类号: O657.32|TF821
• 字数: 1402字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-1744.2003.03.041

摘要

对硅钼蓝分光光度法测定氧化铝中二氧化硅含量的方法进行改进,克服显色络合物不稳定,或者出现浑浊等现象.用抗坏血酸作还原剂,在810nm处测定.改进方法中形成的硅钼蓝络合物稳定时间长,可在显色后20min到2h之内进行测定,3个样品平行测定的相对偏差仅为3%,加标回收率为95%～103%,最大相对误差为5.0%.磷、砷和铁浓度分别在10,100和250μg/mL以下不干扰硅的测定.可完全满足一般工业分析的要求.