Ag-TCNQ薄膜电双稳态特性的XPS研究

• 作者: 华中一 孔令柱 张强基 张群 王伟军
• 来源期刊: 真空科学与技术学报
• 学科: 物理学
• 关键词: XPS Ag-TCNQ 电双稳态特性 化学态
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 169-172
• 页数: 4页
• 分类号: O485
• 字数: 2609字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7126.2003.03.006

摘要

本文采用X光电子谱仪(XPS)研究了Ag-TCNQ薄膜的电双稳态特性.对TCNQ粉末、热处理前后的TCNQ薄膜及Ag-TCNQ薄膜作了分析.结果发现,真空蒸镀及大气环境中热处理不会引起TCNQ化学状态的变化,而热处理会促使Ag与TCNQ发生反应,薄膜电双稳态特性的优劣则与反应程度有关.最后讨论了这一现象的可能机理.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	华中一	复旦大学材料科学系	51	348	11.0	15.0
2	张群	复旦大学材料科学系	110	917	15.0	24.0
3	王伟军	复旦大学材料科学系	6	24	4.0	4.0
4	张强基	复旦大学材料科学系	8	31	3.0	5.0
5	孔令柱	复旦大学材料科学系	4	59	2.0	4.0