现代电子工业Cpk评价中的特殊问题

• 作者: 王艳颖 贾新章
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 工序能力指数 成品率 正态分布 非正态分布 多变量
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 所属期刊栏目: 专家论坛
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: TN711
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2003.04.001

摘要

现代电子工业生产具有许多新的特点,如果不针对具体情况,均采用传统工业生产中广泛使用的常规方法计算其工序能力指数,评价生产工艺水平,将可能导致错误的结论.总结了电子工业生产中工艺参数的典型特点,并讨论了工序能力指数的正确计算方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贾新章	西安电子科技大学微电子所	63	572	14.0	20.0
2	王艳颖	西安电子科技大学微电子所	1	3	1.0	1.0