用FEM/FIM研究单壁碳纳米管束

• 作者: 侯士敏 刘惟敏 张兆祥 张耿民 薛增泉 赵兴钰 金新喜 顾镇南
• 来源期刊: 真空科学与技术学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 场发射显微镜 场离子显微镜 单壁碳纳米管 场脱附
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: O434.12|O462.4
• 字数: 2116字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7126.2003.01.001

摘要

利用范氏力将单壁碳纳米管样品组装到钨针尖上,用FEM/FIM对同一碳纳米管样品用热处理方法和场脱附方法进行了研究.场离子显微镜是具有原子级分辨能力的尖端表面分析工具,由场离子像推测这次组装的样品是由三根单壁碳纳米管突起组成的碳纳米管束.清洁碳纳米管束样品的场发射像和场离子像有极好的对应关系.场脱附后的碳纳米管束的场发射特性较好地符合Fowler-Nordheim场发射模型.通过比较碳纳米管束吸附态和热处理后以及场脱附后的Fowler-Nordheim曲线的斜率变化,得出碳纳米管束样品逸出功的变化,再结合场发射像的变化推断出场脱附与热处理结合是一种较理想的获得清洁碳纳米管表面的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张耿民	北京大学电子学系	26	189	8.0	13.0
2	张兆祥	北京大学电子学系	26	156	7.0	11.0
3	薛增泉	北京大学电子学系	66	466	11.0	19.0
4	刘惟敏	北京大学电子学系	40	283	8.0	15.0
5	赵兴钰	北京大学电子学系	28	187	7.0	13.0
6	侯士敏	北京大学电子学系	42	265	8.0	15.0
7	顾镇南	北京大学化学与分子工程学院	47	888	11.0	29.0
8	金新喜	北京大学电子学系	3	2	1.0	1.0