窗函数在相控阵天线平面近场测量中的应用

• 作者: 于丁 傅德民 刘其中 毛乃宏
• 来源期刊: 电波科学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 余弦窗函数 相控阵天线 平面近场测量 有限扫描面 截断误差
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 290-294
• 页数: 5页
• 分类号: TN821+.Z
• 字数: 3731字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-0388.2003.03.011

摘要

有限扫描面截断是影响天线平面近场测量精度的主要误差源之一,尤其是对于波束扫描的相控阵天线的平面近场测量更是如此.为了减小相控阵天线平面近场测量中的有限扫描面截断误差,介绍了余弦窗函数并将其应用到相控阵天线平面近场测量中.计算机模拟结果表明,通过对近场进行加余弦窗的数据处理能够有效地减小有限扫描面截断误差.提出了对近场数据进行加余弦窗处理的适用条件.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘其中	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	130	1413	19.0	31.0
2	傅德民	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	59	546	12.0	21.0
3	于丁	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	17	78	6.0	8.0
4	毛乃宏	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	27	107	7.0	8.0