量子态统计测量电路探讨

• 作者: 吉争鸣 吴培亨 孙国柱 杨名 范世雄 许伟伟
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 工学
• 年，卷（期）: 2003,（z2）
• 页码范围: 298-301
• 页数: 4页
• 分类号: TN7
• 字数: 2642字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.2003.z2.002

摘要

本文讨论了超导隧道结(SIS)从零电压态跃迁到正常态过程的量子特征.对SIS结的临界电流的统计分布测量的可行性作了探讨.由于SIS结的临界电流是温度敏感的量,并且,其量子跃迁的电流变化很小, 因此,对温度的稳定性和测量的精度均要求很高.我们提出了一种改进的以测量时间间隔的方法取代直接测量临界电流的方法的测量方案,去测量SIS结从零电压态跃迁到正常态过程临界电流变化的统计分布.电路的计算机模拟表明,这种方法较直接法有更好的精度. 实验上的测量在准备中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许伟伟	南京大学电子科学与工程系超导电子研究所	69	148	6.0	9.0
2	吴培亨	南京大学电子科学与工程系超导电子研究所	93	237	8.0	12.0
3	杨名	南京大学电子科学与工程系超导电子研究所	5	32	3.0	5.0
4	吉争鸣	南京大学电子科学与工程系超导电子研究所	36	111	6.0	9.0
5	孙国柱	南京大学电子科学与工程系超导电子研究所	24	18	3.0	3.0
6	范世雄	南京大学电子科学与工程系超导电子研究所	8	21	3.0	4.0