作者:
原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
从器件的芯片结构及封焊工艺人手,分析了封焊工艺影响成品率的各种原因,并采取相应的改进措施,提高了器件的成品率.
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文献信息
篇名 波导腔体用微波开关二极管封焊工艺的改进
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 微波开关二极管 封焊 工艺 改进 成品率
年,卷(期) 2003,(1) 所属期刊栏目 可靠性设计与工艺控制
研究方向 页码范围 19-21
页数 3页 分类号 TN63+1.2
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-5468.2003.01.005
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 寇亚男 4 44 3.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
微波开关二极管
封焊
工艺
改进
成品率
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
2803
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总被引数(次)
9369
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