SOC测试中BIST的若干思考

• 作者: 吉利久 王新安
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 知识产权模块IP 集成系统芯片SOC 内嵌自测试BIST 开放核协议OCP
• 年，卷（期）: 2003,（10）
• 所属期刊栏目: 微电子技术
• 页码范围: 41-44,47
• 页数: 5页
• 分类号: TP393
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2003.10.013

摘要

文章简述SOC测试中BIST的优势,结合SOC设计与测试的相关标准,探讨BIST的发展.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吉利久	北京大学微电子研究院	47	298	11.0	15.0
2	王新安	北京大学微电子研究院	59	187	6.0	11.0