JZC-1M/027-01继电器失效机理分析

• 作者: 孙静 王全 胡会能 胡斌
• 来源期刊: 材料工程
• 关键词: 继电器 断裂
• 年，卷（期）: 2003,（z1）
• 所属期刊栏目: 控制系统与电子元器件
• 页码范围: 178-180
• 页数: 3页
• 分类号: V442
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4381.2003.z1.057

摘要

通过对JZC-1M/027-01继电器进行失效分析,认为继电器失效原因是由于中簧片在焊接部位产生断裂,导致中簧片不能回弹,在继电器加电时中簧片与常开簧片接触,断电后不能复位,使中簧片与常开簧片为短路状态.断裂簧片脆性断裂的原因是簧片在焊接过程中曾经较长时间受到较高温度的作用,导致热影响区(断裂部位)晶粒长大,晶界变粗且弱化,在继电器工作过程中,由于该部位多次受到应力作用而产生脆性断裂.正常簧片在热影响区未发现类似现象.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙静		3	0	0.0	0.0
2	王全		4	1	1.0	1.0
3	胡斌		3	0	0.0	0.0
4	胡会能		5	3	1.0	1.0