500kV MOA劣化的带电测试及原因分析

• 作者: 区伟斌 赵卫民 黄松波 黄涛
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 交流无间隙金属氧化物避雷器 带电测试 交流泄漏电流 红外检测
• 年，卷（期）: 2003,（10）
• 所属期刊栏目: 现场经验与技术交流
• 页码范围: 58-59
• 页数: 2页
• 分类号: TM862
• 字数: 1293字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2003.10.025

摘要

带电测试发现一起500 kV MOA泄漏电流增大,通过红外热成像检测到明显的热缺陷红外图谱,停电检查试验验证了带电检测结果.解体后的MOA试验发现缺陷原因为阀片劣化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄涛		11	159	3.0	11.0
2	黄松波		2	30	2.0	2.0
3	区伟斌		1	24	1.0	1.0
4	赵卫民		1	24	1.0	1.0