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染料工业
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基于ARM&CPLD分立器件测试主机总线控制器
ARM
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分立器件测试系统
测试主机系统总线控制器
内容分析
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文献信息
篇名 分立式逻辑器件新动向
来源期刊 电子产品世界 学科
关键词
年,卷(期) 2003,(21) 所属期刊栏目 IC与元器件
研究方向 页码范围 43-44
页数 2页 分类号
字数 2587字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-5517.2003.21.027
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期刊影响力
电子产品世界
月刊
1005-5517
11-3374/TN
大16开
北京市复兴路15号138室
82-552
1993
chi
出版文献量(篇)
11765
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19602
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