金属化膜电容器接触电阻的计算

• 作者: 何磊 刘浩菊 姚宗干 徐智安 林福昌
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 金属化膜 自愈 接触电阻
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 脉冲功率技术
• 页码范围: 35-36
• 页数: 2页
• 分类号: TM501
• 字数: 1325字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2003.01.016

摘要

依据实验结果讨论了金属化膜电容器端部损坏机理.电容器端部喷金层与膜上金属蒸镀层的不完全连接性,是电容器损坏的主要原因之一.由端部接触电阻初步的建模计算分析了各种影响因素.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林福昌		87	1184	16.0	32.0
2	姚宗干		20	315	9.0	17.0
3	何磊		4	25	3.0	4.0
4	徐智安		7	100	3.0	7.0
5	刘浩菊		2	7	2.0	2.0