纳米线阵列结构温差电材料热电性能测试技术

• 作者: 司丽萍 张建中 王为 陈岩
• 来源期刊: 电源技术
• 学科: 工学
• 关键词: 一维纳米线阵列结构温差电材料 测量技术 热电性能 测试系统
• 年，卷（期）: 2003,（z1）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 224-226
• 页数: 3页
• 分类号: TM913
• 字数: 2499字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-087X.2003.z1.025

摘要

介绍了一种新的一维纳米线阵列结构温差电材料热电性能测试技术.该技术创造性地采用了液流加热以及异地测温的新方法,成功地解决了对微米厚度的一维纳米线阵列结构热电材料试样两侧均匀加热并保持两侧的温差恒定,以及微米厚度的试样两侧测温的难题.依据这一原理建立了一维纳米线阵列结构热电材料性能测试系统.实验表明,该系统性能稳定,精度高,可胜任一维纳米线阵列结构热电材料的性能测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王为	天津大学化工学院应用化学系	125	1597	22.0	34.0
2	张建中	中国电子科技集团公司第十八研究所	27	253	9.0	15.0
3	陈岩	天津大学化工学院应用化学系	4	63	4.0	4.0
4	司丽萍	天津大学化工学院应用化学系	1	7	1.0	1.0