为第三代移动通信服务解决射频集成电路芯片的测试难题

• 作者: Credence公司
• 来源期刊: 无线电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 射频集成电路芯片 测试要求 第三代移动通信
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 53-56
• 页数: 4页
• 分类号: TN92
• 字数: 5851字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-3106.2003.03.014

摘要

ASL000RFTM是一种新的射频集成电路芯片测试系统.它采用的测量方法符合第三代移动通信设备制造者所需的测试要求,解决了对芯片进行射频、数字与模拟等性能测试中的难题.