Bi系带材性能研究

• 作者: 何砚发 吕朝阳 王金星
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 工学
• 年，卷（期）: 2003,（z1）
• 页码范围: 64-67
• 页数: 4页
• 分类号: TM26
• 字数: 2015字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.2003.z1.014

摘要

本文介绍一种能够迅速获得Bi系带材多种性能参数的方法.它采用计算机进行数据采集和控制,在不断改变外力和外场的同时,对样品施加缓慢变化的传输电流,从而连续测出样品在不同应变和外场下的临界电流.该方法可以方便地获得Bi系带材的应力-应变曲线,临界电流-应变曲线,外场-临界电流曲线,不同应变下的伏安特性曲线以及不同外场下的伏安特性曲线等.通过对几种带材性能的研究表明,该方法简单实用,数据可靠,可供广大材料研究者和材料应用研究人员使用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王金星	东北大学物理系	28	184	7.0	12.0
2	何砚发	东北大学物理系	23	119	6.0	10.0
3	吕朝阳	东北大学物理系	9	54	5.0	7.0