基于VXI总线的通用测试模块的研制

• 作者: 阙沛文 陈霄晗
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: VXI DSP FPGA 通用电路 A/D转换
• 年，卷（期）: 2003,（12）
• 所属期刊栏目: VXI总线技术
• 页码范围: 968-970
• 页数: 3页
• 分类号: TP336
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2003.12.020

摘要

为满足航天测试的需要,设计实现了以DSP+FPGA构成的通用测试平台.通过配以不同的功能电路,并辅以相应的FPGA控制电路及DSP算法,就可以方便、快速地实现各种不同功能的VXI测试模块.介绍了通用模块在多通道数据采集中的应用,实测结果达到了100KSPS的采样速率,分辨率达到14-bit.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	阙沛文	上海交通大学自动检测研究所	109	1553	21.0	31.0
2	陈霄晗	上海交通大学自动检测研究所	1	6	1.0	1.0