基于边界扫描技术的板级BIT设计及测试策略

• 作者: 李桂祥 杨江平 王隆刚
• 来源期刊: 现代雷达
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描 BIT 测试
• 年，卷（期）: 2003,（6）
• 所属期刊栏目: 总体工程
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TN9
• 字数: 4801字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-7859.2003.06.001

摘要

随着超大规模集成电路(VLSI)、表面安装器件(SMD)、多层印制电路板(MPCB)等技术的发展,常规BIT设计面临挑战.为解决上述问题,本文提出了一种基于边界扫描技术的板级BIT的扫描器件置入法及其测试策略.该方法操作简单,经济实用,一旦广泛使用,无疑将会有很好的军事经济效益.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李桂祥	空军雷达学院雷达系统工程系	31	194	9.0	13.0
2	王隆刚	空军雷达学院雷达系统工程系	3	20	1.0	3.0
3	杨江平	华中科技大学电子与信息工程系	6	40	3.0	6.0