弹头发射痕迹计算机图像比对系统研究

• 作者: 曾文涵 谢铁邦 郭军
• 来源期刊: 兵工学报
• 学科: 政治法律
• 关键词: 计算机应用 发射痕迹 屏幕比对 快速自动聚焦 码纹特征
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 页码范围: 504-508
• 页数: 5页
• 分类号: D918
• 字数: 3852字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-1093.2003.04.017

摘要

弹头发射痕迹的比对是破获涉枪案件的关键之一,我国目前在这方面采用的方法都是依靠枪弹痕迹专家在比对显微镜下对所有待比的弹头逐一进行两两比对.这种低效的方法已无法适应形势发展的需要.本文介绍了一种新型弹头发射痕迹计算机图像比对系统,包括系统的硬件结构,软件功能以及主要技术关键及其解决方法.该系统较好地解决了原先的弹头发射痕迹比对方法中存在的问题,实践结果表明具有较高的应用推广价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢铁邦	华中科技大学机械学院仪器系	92	848	17.0	24.0
2	郭军	华中科技大学机械学院仪器系	22	287	11.0	16.0
3	曾文涵	华中科技大学机械学院仪器系	8	201	6.0	8.0