适合于应用实验的X射线激光探针

• 作者: 傅思祖 吴江 孙今人 方智恒 王世绩 王伟 王琛 顾援
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 工学
• 关键词: X射线激光探针 等离子体 场图测量 截面光强分布
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 页码范围: 122-123
• 页数: 2页
• 分类号: TN249

摘要

X射线激光实验研究的主要目的是进行相应的应用研究。由于具有波长短、脉冲短、亮度高、相干性好的优点，因此在很多领域有潜在的应用前景。在所有的应用中，利用X射线激光作为探针来诊断等离子体或其他介质材料方面的应用是最普遍的。一般来说，激光探针穿越等离子体或介质后，光束的强度、前进方向、光程都会发生变化。分别检测这些变化，就可以获得等离子体的电子密度或介质折射率的相关信息。这就需要对作为探针的X射线激光的输出特性有深入的了解，并且选择更合适的条件进行优化。采用场图测量的方法，即直接测量X射线激光的输出光束在某一位置处的截面光强分布，能够很好地提供关于X射线激光输出光束的全面的信息，对应用研究具有很好的参考和指导作用。