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100Base-TX接口指标的测试和分析
100Base-TX接口指标的测试和分析
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摘要：
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组建100Base-Tx若干问题的研讨
以太网
双绞线
RJ-45接头
RJ-45插座
100Base-TX以太网物理层一致性测试技术研究
网络接口
物理层
一致性
测试
组建100Base-Tx若干问题的研讨
以太网
双绞线
RJ-45接头
RJ-45插座
100BASE-TX局域网非屏蔽双绞线的传导发射测试技术
非屏蔽双绞线
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期刊影响力
今日电子
主办单位：
电子工业出版社
美国国际数据集团
出版周期：
月刊
ISSN：
1004-9606
CN：
11-3227/TM
开本：
大16开
出版地：
北京海淀区中关村南大街乙12号天作国际中心1号楼A座1506-1508
邮发代号：
82-518
创刊时间：
1993
语种：
chi
出版文献量（篇）
4775
总下载数（次）
3
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