嵌入式器件的测试技术研究

• 作者: 冯蕊 吉国凡
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: 嵌入式 80C31 单片机 82C51 通讯接口
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 大规模集成电路设计、制造与应用
• 页码范围: 16-18
• 页数: 3页
• 分类号: TN4
• 字数: 2772字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2003.02.005

摘要

主要介绍了以80C31为核,嵌入一个通用通讯接口器件的测试方法和技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吉国凡		4	4	1.0	2.0
2	冯蕊		2	0	0.0	0.0