辐射环境中探测Compton电子束流的Rogowski线圈

• 作者: 周启明
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 工学
• 关键词: Compton电子束流 ROGOWSKI线圈 金属介质 电磁脉冲 γ衰减系数 辐射测量
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 页码范围: 123-124
• 页数: 2页
• 分类号: TL622

摘要

在金属腔体内电磁脉冲(IEMP）实验研究中，需要同时测量入射γ剂量率和腔体内的电场、磁场以及TEMP的激励源——Compton电流。Compton电流跟随着γ脉冲变化，它们有相似的波形。其电流密度JC与入射的γ剂量率D(Gy(Si)／s)之间呈线性关系。即JC=fkD式中，f为前端面的γ衰减系数；K为辐照系数，表示γ-Compton电流转换效率。