壳聚糖膜与Co(Ⅱ)、Ni(Ⅱ)、Cu(Ⅱ)复合物的IR光谱和XPS谱

• 作者: 余坚 张耀芳 杨阳 郝志峰 陈广新
• 来源期刊: 光谱实验室
• 学科: 化学
• 关键词: 壳聚糖膜 复合物 红外光谱 X射线光电子能谱
• 年，卷（期）: 2003,（6）
• 页码范围: 799-802
• 页数: 4页
• 分类号: O657.33|O657.62
• 字数: 2638字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-8138.2003.06.001

摘要

将壳聚糖制成膜后浸泡在含有金属离子Cu(Ⅱ)、Co(Ⅱ)、Ni(Ⅱ)的溶液中制备得到相应的复合物.根据IR光谱中官能团特征频率的位移和XPS谱中元素结合能的变化,表明Co(Ⅱ)、Ni(Ⅱ)、Cu(Ⅱ)与壳聚糖膜的吸附机理包括物理作用和化学吸附,其中化学吸附是通过壳聚糖表面部分-NH2提供孤对电子和金属离子形成了配位键.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余坚	汕头大学中心实验室	14	94	6.0	9.0
2	郝志峰	汕头大学中心实验室	22	192	9.0	13.0
3	陈广新	汕头大学中心实验室	4	51	3.0	4.0
4	张耀芳	汕头大学中心实验室	1	29	1.0	1.0