铂钨含量对CoPtW永久磁性薄膜结构及磁性能的影响

• 作者: 崔玉建 江影 葛洪良 蒋丽珍 黄丽红
• 来源期刊: 稀有金属
• 学科: 物理学
• 关键词: 薄膜 磁性能 电化学
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 555-557
• 页数: 3页
• 分类号: O484.4
• 字数: 1303字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-7076.2003.05.010

摘要

研究了钴钨含量对CoPtW永久磁性薄膜结构及磁性能的影响. 研究表明, Pt+W的原子含量在10%～12%之间时对晶体的晶面间距影响较大, 晶系发现变化. 随着这一含量的增大, 在样品表面垂直和平行磁场方向上的矫顽力差值变大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	葛洪良	中国计量学院物理系	89	343	10.0	14.0
2	崔玉建	中国计量学院物理系	13	65	6.0	7.0
3	黄丽红	中国计量学院物理系	37	89	6.0	7.0
4	蒋丽珍	中国计量学院物理系	8	13	2.0	3.0
5	江影	中国计量学院物理系	20	86	6.0	9.0