系统芯片中AMBA总线串扰故障的自测试方法

• 作者: 时龙兴 李杰 杨军 胡晨
• 来源期刊: 电路与系统学报
• 学科: 工学
• 关键词: 系统芯片 串扰 MAF AMBA总线
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 124-129
• 页数: 6页
• 分类号: TP332.1
• 字数: 3957字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-0249.2003.02.028

摘要

系统芯片(SoC)技术的发展使得芯片内总线长度大大增加,芯片速度按照摩尔定律成倍提高(高达GHz),总线间的串扰(Crosstalk)现象也日益严重,因此关于串扰的故障模型和自测试技术越来越受到关注.本文利用最大侵扰故障MAF(Maximal Aggressor Fault)模型,提出了一种SoC芯片中总线串扰故障的自测试方法.利用该方法,SoC芯片中地址、数据和控制总线的串扰故障均得到了测试,实验结果也表明其硬件开销较其它方案大大降低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨军	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	210	2336	24.0	38.0
2	李杰	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	48	338	9.0	16.0
3	胡晨	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	72	709	14.0	24.0
4	时龙兴	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	61	457	11.0	18.0