用局域寿命控制技术改善功率快恢复二极管性能的仿真研究

• 作者: 亢宝位 吴郁 吴鹤 贾云鹏
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 局域寿命控制 参数折衷 轴向位置 复合中心能级位置
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 520-527
• 页数: 8页
• 分类号: TN31
• 字数: 5871字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2003.05.015

摘要

针对局域低寿命区的参数对快恢复硅功率二极管性能的影响进行了系统的仿真研究,得到了全面系统的研究结果,其中包括局域低寿命区在二极管中的位置不同和局域低寿命区中复合中心能级在禁带中的位置不同对快恢复二极管的反向恢复时间(trr)、反向恢复软度因子(S)、正向压降(VF)、漏电流(IR)等各个单项性能的影响,以及对trr-S、trr-VF和trr-IR等各项性能综合折衷的影响.这些结果对高速功率器件寿命工程研究和器件制造工程都有重要的参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴郁	北京工业大学电子信息与控制工程学院	38	215	9.0	13.0
2	亢宝位	北京工业大学电子信息与控制工程学院	28	291	10.0	16.0
3	吴鹤	北京工业大学电子信息与控制工程学院	2	33	2.0	2.0
4	贾云鹏	北京工业大学电子信息与控制工程学院	16	107	7.0	9.0