热表面电离源同位素丰度测量的理论模型

• 作者: 张路平
• 来源期刊: 质谱学报
• 学科: 化学
• 关键词: 质谱学 热表面电离源理论模型 扩散系数 蒸发率
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 332-336
• 页数: 5页
• 分类号: O657.63|O552.2
• 字数: 2284字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-2997.2003.02.003

摘要

根据对热表面电离源同位素丰度测量过程中样品蒸发的微观研究,提出如下三条假设:(1)未被外层原子覆盖的原子才能蒸发;(2)被外层原子覆盖的原子只能扩散不能蒸发;(3)同位素原子的扩散几率与蒸发几率成正比.根据这三条假设建立了样品原子数的微分方程及边界条件,推导出了不同扩散系数的样品原子数的理论公式,从理论上讨论了熔融态、固态样品以及蒸发分解同时发生的样品同位素丰度比与样品消耗量间的关系.研究表明:扩散系数＞10-15 m2/s的样品同位素丰度比与样品消耗量的关系与H.Kanno得出的结论相同,扩散系数＜5×10-21 m2/s的样品同位素丰度比与样品消耗量无关,等于实际值;蒸发分解同时发生的样品同位素丰度比与分解率蒸发率之比有关.