切伦科夫辐射"双成像法"测量电子束发射度

• 作者: 丁原涛 全胜文 张保澄 谷安佳 赵夔 陈佳洱 鲁向阳
• 来源期刊: 高能物理与核物理
• 学科: 物理学
• 关键词: 切伦科夫辐射 "双成像法" 均方根发射度 图像处理 计算机模拟
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 加速器
• 页码范围: 163-168
• 页数: 6页
• 分类号: O4
• 字数: 4218字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3052.2003.02.018

摘要

利用切伦科夫辐射,OTR或荧光靶等光学诊断方法进行发射度测量,国内外绝大部分实验是用CCD相机观测电子束打靶产生的光斑,变化四极透镜的磁场梯度,应用"三梯度法"计算出发射度. 文中提出了一种新的"双成像法"测量方法,使切伦科夫辐射光通过一长焦距的消色差薄透镜,分别在焦平面和像平面获取图像. 通过图像处理,前者可分析出电子束散角分布,后者可分析出电子束径向分布,从而直接得到均方根发射度. 该方法对束流相空间和电荷密度分布无需假设,无需借助"三梯度法",较其他常规测量方法具有实验装置更简便、测量精度更高和适用性更广等优点. 文中给出了该测量方法对北京大学DC-SC光阴极注入器的发射度测量进行计算机模拟实验的结果和分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵夔	北京大学物理学院重离子物理研究所	33	190	7.0	12.0
2	张保澄	北京大学物理学院重离子物理研究所	12	106	4.0	10.0
3	陈佳洱	北京大学物理学院重离子物理研究所	41	139	7.0	10.0
4	全胜文	北京大学物理学院重离子物理研究所	17	44	3.0	6.0
5	鲁向阳	北京大学物理学院重离子物理研究所	15	51	4.0	6.0
6	谷安佳	北京大学物理学院重离子物理研究所	2	19	2.0	2.0
7	丁原涛	北京大学物理学院重离子物理研究所	3	19	2.0	3.0