材料S-N、ε-N及da/dN-ΔK疲劳性能数据之间的内在联系

• 作者: 冯谦 沈海军 郭万林
• 来源期刊: 机械强度
• 关键词: da/dN-ΔK数据 ε-N数据 S-N数据 疲劳性能
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 所属期刊栏目: 疲劳·损伤·断裂
• 页码范围: 556-560
• 页数: 5页
• 分类号: O346.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9669.2003.05.020

摘要

材料的S-N、ε-N及da/dN-ΔK疲劳性能数据分别是应力寿命法、局部应变法以及LEFM裂纹扩展法进行结构寿命分析的基础.文中根据几种疲劳寿命模型,探讨同一材料三种疲劳性能数据之间的内在联系及相互预测的可能性.具体内容包括,(1)用da/dN-ΔK性能数据预测S-N数据.(2)用ε-N性能数据预测S-N数据.(3)用ε-N性能数据推测da/dN-ΔK数据.研究结果表明,同种材料的S-N、ε-N及da/dN-ΔK疲劳性能数据之间是相互联系的,存在相互预测的可能性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭万林	南京航空航天大学航空宇航学院	93	1177	19.0	28.0
2	沈海军	南京航空航天大学航空宇航学院	96	493	12.0	18.0
3	冯谦	南京航空航天大学航空宇航学院	6	88	4.0	6.0