高阶谱在超声无损检测中的应用

• 作者: 刘镇清 陈广
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 超声检验 信号处理 信噪比 高阶谱 分辨力 降噪
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 页码范围: 63-65
• 页数: 3页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 1819字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6656.2003.02.001

摘要

提出了基于高阶谱的减噪方法,能有效提高回波信号的信噪比,减弱检测噪声对于缺陷散射特征的影响,从而突出缺陷特征信息.实验结果表明,用该法进行信号处理信噪比明显提高,缺陷分辨能力大大改善.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈广	同济大学声学研究所	11	222	7.0	11.0
2	刘镇清	同济大学声学研究所	55	1403	20.0	37.0