厚膜电阻器的噪声及其应用

• 作者: 庄娈琪 杜磊 胡争
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 厚膜电阻器 1/f 噪声 可靠性
• 年，卷（期）: 2003,（10）
• 所属期刊栏目: 设计与应用
• 页码范围: 64-65,63
• 页数: 3页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2003.10.024

摘要

本文综述了厚膜电阻器中噪声的种类、产生部位及机理的研究,重点介绍了厚膜电阻器的导电机制及l/f噪声的模型,并详细讨论了测量厚膜电阻器中l/f噪声的测量系统.在以上讨论的基础上,对厚膜电阻器的低噪声化进行了简单的分析,展望了噪声作为可靠性表征参量的前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜磊	西安电子科技大学技术物理学院	99	486	13.0	18.0
2	胡争	西安电子科技大学技术物理学院	1	1	1.0	1.0
3	庄娈琪	西安电子科技大学技术物理学院	1	1	1.0	1.0