3TB40交流接触器辅助触头可靠性试验研究

• 作者: 刘砚菊 张根柱 李延斌 田志国 高有华
• 来源期刊: 继电器
• 学科: 工学
• 关键词: 交流接触器 辅助触头 可靠性试验 失效分析
• 年，卷（期）: 2003,（z1）
• 页码范围: 50-52,54
• 页数: 4页
• 分类号: TM572
• 字数: 2575字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-3415.2003.z1.017

摘要

介绍了3TB40交流接触器辅助触头可靠性试验的方法和试验监测结果.对该产品进行了失效分析,给出了可靠性的特征指标.找出了影响产品可靠性指标的主要因素,分析了失效机理,为接触器的可靠性设计提供参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李延斌		38	238	8.0	13.0
2	刘砚菊		5	18	3.0	4.0
3	高有华		34	191	8.0	12.0
4	张根柱		2	8	2.0	2.0
5	田志国		2	7	1.0	2.0