纳米Al/Al2O3多层膜的光电子谱与电性能

• 作者: Martin A Green 薛钰芝
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 物理学
• 关键词: Al/Al2O3多层膜 电子能谱 电性能
• 年，卷（期）: 2003,（z1）
• 页码范围: 65-69
• 页数: 5页
• 分类号: O484.4
• 字数: 2747字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2003.z1.014

摘要

用热蒸发和自然氧化法制备纳米量级Al/Al2O3多层膜.检测XPS光电子能谱和UPS谱线,得到Ei(k∥I)关系曲线,并发现薄膜具有负阻特性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	薛钰芝		7	78	5.0	7.0
2	Martin A Green	澳大利亚新南威尔士大学光伏工程研究中心	3	27	2.0	3.0