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摘要:
在一个SoC系统中,数模混合内建自测试(MADBIST)的建立需要直接数字频率综合(DDFS)与Delta-sigma调制滤波两项技术的支持.本文先就其原理进行分析,后用VHDL语言编程实现一个由二阶无损数字波形发生器与二阶△-∑调制器合成的具体电路.在得到良好仿真结果的同时,该设计降低硬件资源,减少量化噪声,具有一定的现实意义.
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文献信息
篇名 MADBIST系统中正弦信号发生器的设计与仿真
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词 数模混合内建自测试 直接数字频率合成 △-∑调制
年,卷(期) 2003,(8) 所属期刊栏目 封装与测试技术
研究方向 页码范围 18-21,35
页数 5页 分类号 TN702
字数 1303字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-353X.2003.08.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 颜学龙 桂林电子工业学院电子工程系 89 330 9.0 12.0
2 陈列 桂林电子工业学院电子工程系 1 3 1.0 1.0
传播情况
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引文网络
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1994(1)
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2003(0)
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2008(1)
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  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
数模混合内建自测试
直接数字频率合成
△-∑调制
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体技术
月刊
1003-353X
13-1109/TN
大16开
石家庄179信箱46分箱
18-65
1976
chi
出版文献量(篇)
5044
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38
总被引数(次)
24788
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